安捷倫科技(中國)有限公司
使用 ICP-OES 測定金屬樣品中的硅元素
檢測樣品:金屬
檢測項目:硅元素
方案概述:本文介紹了一種使用 ICP-OES 測定金屬樣品基體中,氫氟酸介質(zhì)下硅元素的方法,采用了安捷倫無硅涂層的耐氫氟酸進樣系統(tǒng),克服了常規(guī) ICP-OES 分析氫氟酸介質(zhì)空白值高的缺點,獲得了較低的空白值,適合于測定多種金屬基體中不同含量范圍的硅元素。
本文介紹了一種使用 ICP-OES 測定金屬樣品基體中,氫氟酸介質(zhì)下硅元素的方法,采用了安捷倫無硅涂層的耐氫氟酸進樣系統(tǒng),克服了常規(guī) ICP-OES 分析氫氟酸介質(zhì)空白值高的缺點,獲得了較低的空白值,適合于測定多種金屬基體中不同含量范圍的硅元素。
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